電子測(cè)試熱系統(tǒng)在芯片行業(yè)測(cè)試的作用，用戶想必也有目共睹，那么，關(guān)于電子測(cè)試熱系統(tǒng)，大家了解多少呢？

電子測(cè)試熱系統(tǒng)利用基于數(shù)字信號(hào)處理的測(cè)試技術(shù)來(lái)測(cè)試混合信號(hào)芯片與傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)相比有許多優(yōu)勢(shì)，能把各個(gè)頻率的信號(hào)分量區(qū)分開(kāi)來(lái)(也就是能把噪聲和失真從測(cè)試頻率或者其它頻率分量中分離出來(lái))，所以能增加測(cè)試的精度和可重復(fù)性。能使用很多數(shù)據(jù)處理函數(shù)，比如說(shuō)求平均數(shù)等，這對(duì)混合信號(hào)測(cè)試非常有用。

電子測(cè)試熱系統(tǒng)常見(jiàn)的混合信號(hào)芯片有：模擬開(kāi)關(guān)，它的晶體管電阻隨著數(shù)字信號(hào)變化；可編程增益放大器，能用數(shù)字信號(hào)調(diào)節(jié)輸入信號(hào)的放大倍數(shù)；數(shù)模轉(zhuǎn)換電路；模數(shù)轉(zhuǎn)換電路；鎖相環(huán)電路，常用于生成高頻基準(zhǔn)時(shí)鐘或者從異步數(shù)據(jù)流中恢復(fù)同步時(shí)鐘。

電子測(cè)試熱系統(tǒng)接觸性測(cè)試(短路開(kāi)路測(cè)試)用于保證電子測(cè)試熱系統(tǒng)到芯片接口板的所有電性連接正常，漏電流測(cè)試是指測(cè)試模擬或數(shù)字芯片高阻輸入管腳電流，或者是把輸出管腳設(shè)置為高阻狀態(tài)，再測(cè)量輸出管腳上的電流。盡管芯片不同，漏電流大小會(huì)不同，但在通常情況下，漏電流應(yīng)該小于1uA。

電子測(cè)試熱系統(tǒng)每個(gè)電源管腳消耗的電流是發(fā)現(xiàn)芯片是否存在災(zāi)難性缺陷的較快方法之一。每個(gè)電源管腳被設(shè)置為預(yù)定的電壓，接下來(lái)用自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的測(cè)量單元測(cè)量這些電源管腳上的電流。這些測(cè)試一般在測(cè)試程序的開(kāi)始時(shí)進(jìn)行，以快速有效地選出那些完全失效的芯片。電源測(cè)試也用于保證芯片的功耗能滿足終端應(yīng)用的要求。

不同廠家的電子測(cè)試熱系統(tǒng)在性能以及配置上面是有所區(qū)別的，用戶可根據(jù)自己的需求以及工況進(jìn)行選擇。（內(nèi)容來(lái)源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，請(qǐng)聯(lián)系刪除，謝謝。）