電子測試熱系統在芯片行業測試的作用，用戶想必也有目共睹，那么，關于電子測試熱系統，大家了解多少呢？

電子測試熱系統利用基于數字信號處理的測試技術來測試混合信號芯片與傳統的測試技術相比有許多優勢，能把各個頻率的信號分量區分開來(也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來)，所以能增加測試的精度和可重復性。能使用很多數據處理函數，比如說求平均數等，這對混合信號測試非常有用。

電子測試熱系統常見的混合信號芯片有：模擬開關，它的晶體管電阻隨著數字信號變化；可編程增益放大器，能用數字信號調節輸入信號的放大倍數；數模轉換電路；模數轉換電路；鎖相環電路，常用于生成高頻基準時鐘或者從異步數據流中恢復同步時鐘。

電子測試熱系統接觸性測試(短路開路測試)用于保證電子測試熱系統到芯片接口板的所有電性連接正常，漏電流測試是指測試模擬或數字芯片高阻輸入管腳電流，或者是把輸出管腳設置為高阻狀態，再測量輸出管腳上的電流。盡管芯片不同，漏電流大小會不同，但在通常情況下，漏電流應該小于1uA。

電子測試熱系統每個電源管腳消耗的電流是發現芯片是否存在災難性缺陷的較快方法之一。每個電源管腳被設置為預定的電壓，接下來用自動測試設備的測量單元測量這些電源管腳上的電流。這些測試一般在測試程序的開始時進行，以快速有效地選出那些完全失效的芯片。電源測試也用于保證芯片的功耗能滿足終端應用的要求。

不同廠家的電子測試熱系統在性能以及配置上面是有所區別的，用戶可根據自己的需求以及工況進行選擇。（內容來源網絡，如有侵權，請聯系刪除，謝謝。）